PARTE 2: CARACTERIZACIÓN AVANZADA DE LA ESTRUCTURA CELULAR USANDO SEM Y TOMOGRAFÍA DE RAYOS-X

Ponente
Dr. Cristina Saiz Arroyo
Responsable de Nuevos Productos e I+D en CellMat Technologies

 

 

En este seminario nos centraremos en explicar nuestros enfoques para usar la microscopía electrónica de barrido (SEM) y la tomografía de rayos-X como herramientas para caracterizar en detalle la estructura celular de las espumas.

Cuando se emplea SEM es posible caracterizar parámetros de la fase gaseosa como el tamaño de celda en 2D, el tamaño de celda en 3D, la densidad de nucleación celular, el coeficiente de anisotropía, la anchura de la distribución de tamaños de celda y el coeficiente de asimetría. La preparación de la muestra y los protocolos de análisis de imagen son claves a la hora de obtener resultados adecuados.

Cuando se utiliza tomografía de rayos-X se puede obtener información sobre las principales características de la fase sólida. En particular, se puede determinar el espesor de las paredes celulares, el espesor de las aristas y la fracción de masas en las aristas cuando se utiliza tomografía de rayos-X, con suficiente resolución, junto con protocolos de análisis de imagen especialmente diseñados para esta finalidad. Este tipo de información solo se puede lograr con buena precisión cuando se utiliza esta aproximación. Además, esta información es de gran utilidad para entender en detalle las propiedades físicas de las espumas.

La información obtenida empleando estas técnicas es crítica para modelizar las propiedades térmicas y mecánicas de diferentes tipos de espumas. Durante el seminario mostraremos algunos ejemplos que explican como este tipo de caracterizaciones son útiles para resolver desafíos con espumas producidas a escala industrial (por ejemplo, espumas de poliuretano y espumas de poliolefinas).